9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
| 商品编码 | 90308200.00 | ||||
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices | ||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90308200.00 | 硅片杂质浓度检测仪 | (旧)(SSM490i1994年产) |
| 90308200.00 | 三极管电性能检测仪 | (TST-9600B) |
| 90308200.00 | 硅片工艺特征检测仪 | (旧)(HP4145B1993年产) |
| 90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)NEC牌(PG-FP4-E(无配置无分选功能)) |
| 90308200.00 | 晶片电阻检测仪 | (带记录装置)(AX-1155B) |
| 90308200.00 | 硅片厚度检测仪 | (旧)(NANOSPEC1995年产) |
| 90308200.00 | 硅片平面特性检测仪 | (旧)(S-88201996年产) |
| 90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)(RENESAS牌HS0005KCU01H) |
| 90308200.00 | 芯片自动测试仪 | (DS-168) |
| 90308200.00 | 晶体频率测试仪 | (型号KS360KOLINKER牌) |
| 90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)(Magnachip牌SESO0700134) |
| 90308200.00 | 测试仪用于检测半导体晶片的信 | (号功能STM牌STX-RLINK) |
| 90308200.00 | 无独立使用功能的半导体测试机 | (半导体测试机备件DS-610T) |
| 90308200.00 | 晶闸管断态电压临界上升率测试仪 | 检测半导体晶片|测试芯片参数|无|无牌|DBC-061 |
| 90308200.00 | 晶闸管浪涌电流测试仪 | 检测半导体晶片|测试芯片参数|无|无牌|DBC-101 |
| 90308200.00 | 晶闸管伏安特性、触发特性、关断时间综合测试仪 | 检测半导体晶片|测试芯片参数|无|无牌|DBC-021 |
| 90308200.00 | 晶闸管通态峰值电压测试仪 | 检测半导体晶片|测试芯片参数|无|无牌|DBC-011 |
| 90308200.00 | 半导体晶片测试机 | 用于半导体晶片测试|检测晶体管电性能参数的功能|不带记 |
| 90308200.00 | 多功能数字集成电路测试系统 | 用于测试混合电路芯片;泰瑞达;测试混合电路芯片;J75 |
| 90308200.00 | 高速高精度转换器测试仪 | 用于测试混合电路芯片;泰瑞达;测试混合电路芯片;J75 |
上一条申报实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一条申报实例：90308410.00-电感及电容测试仪