9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品编码 | 90308200.00 | ||||
商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器 | ||||
商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器 | ||||
英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
申报实例汇总
HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
90308200.00 | 测试板 | 芯片测试|测试芯片|不带记录装置|QUALCOMM A |
90308200.00 | 晶体管图示仪 | |
90308200.00 | 集成电路测试机 | 测试集成电路芯片用|测试数字集成电路中芯片的电压值,电流值及 |
90308200.00 | 半导体测量设备 | 测量晶圆工艺及物质含量 |
90308200.00 | 交直流绝缘耐压测试仪 | 组件测试|交流耐压,直流耐压,绝缘测试|带记录装置|艾 |
90308200.00 | IV测试系统 | 测试太阳能电池用|模拟检测太阳能电池填充因子,开路电压,短路 |
90308200.00 | 集成块测试机(旧) | 测试集成电路|检查集成电路产品的电压|有记录装置|TE |
90308200.00 | 集成电路测试仪 | 用于集成电路(射频类)的自动测试|对射频类集成电路可实 |
90308200.00 | 多晶硅电池片转换效率检测与分 | 用于测量多晶硅电池片转换效率并进行分类|测量多晶硅电池片转 |
90308200.00 | 光学检测仪 | 编带机用|检测半导体元器件的外观|带记录装置|无牌|无 |
90308200.00 | 测试机支架 | 用于支撑和固定测试头|用于测试晶片等的测试机|不带记录 |
90308200.00 | 晶片电阻检测仪 | (带记录装置)(AX-1155B) |
90308200.00 | 晶体频率测试仪 | (型号KS360KOLINKER牌) |
90308200.00 | 硅片金属膜厚度检测仪 | (旧)(MG-3001994年产) |
90308200.00 | 半导体检测器 | (uni580/spider01) |
90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)NEC牌(PG-FP4-E(无配置无分选功能)) |
90308200.00 | 硅片工艺特征检测仪 | (旧)(HP4145B1993年产) |
90308200.00 | 半导体检测仪,品牌ASM. | (用于检测贴片机贴装晶体元器件的安装效果,型号2030) |
90308200.00 | 二极管测试机 | (JL-16) |
90308200.00 | 半导体晶片测试仪 | (OMICRONCPC100) |
上一条申报实例:90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一条申报实例:90308410.00-电感及电容测试仪