加入收藏
9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品编码 90308200.00 
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
申报实例汇总
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 二极管测试机 (JL-16)
90308200.00 半导体晶片测试仪 (OMICRONCPC100)
90308200.00 集成电路检测仪 (测试仪用)(RENESAS牌R0K33026AS000BE)
90308200.00 硅片断面特性检测仪 (旧)(S-43002001年产)
90308200.00 晶体中间频率测试仪 (型号KS300KOLINKER牌)
90308200.00 集成电路检测仪 (测试仪用)NEC牌(PG-FP4-E(无配置无分选功能))
90308200.00 晶片电阻检测仪 (带记录装置)(AX-1155B)
90308200.00 晶体频率测试仪 (型号KS360KOLINKER牌)
90308200.00 硅片厚度检测仪 (旧)(NANOSPEC1995年产)
90308200.00 三极管电性能检测仪 (TST-9600B)
90308200.00 硅片杂质浓度检测仪 (旧)(SSM490i1994年产)
90308200.00 半导体检测仪,品牌ASM. (用于检测贴片机贴装晶体元器件的安装效果,型号2030)
90308200.00 无独立使用功能的半导体测试机 (半导体测试机备件DS-610T)
90308200.00 测试仪用于检测半导体晶片的信 (号功能STM牌ST7FLIT2-IND/USB)
90308200.00 半导体测试治具/NVIDIA牌 (600-50358-0500-100)
90308200.00 内存条测试机 (品牌:M&T)(PVL-D/P5B测试内存条通路,判断)
90308200.00 全自动模块检测机 (SINOCARD牌MTM-100型)
90308200.00 测试机 (测试LED半导体,电气性能)(TH-8000)
90308200.00 硅片微粒子检测仪 (旧)(SFS62001995年产)
90308200.00 硅片工艺特征检测仪 (旧)(HP4145B1993年产)
下一条申报实例:90308410.00-电感及电容测试仪
手机扫一扫直达本页面