9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品编码 | 90308200.00 | ||||
商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器 | ||||
商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器 | ||||
英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
申报实例汇总
HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
90308200.00 | 二极管测试机 | (JL-16) |
90308200.00 | 半导体晶片测试仪 | (OMICRONCPC100) |
90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)(RENESAS牌R0K33026AS000BE) |
90308200.00 | 硅片断面特性检测仪 | (旧)(S-43002001年产) |
90308200.00 | 晶体中间频率测试仪 | (型号KS300KOLINKER牌) |
90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)NEC牌(PG-FP4-E(无配置无分选功能)) |
90308200.00 | 晶片电阻检测仪 | (带记录装置)(AX-1155B) |
90308200.00 | 晶体频率测试仪 | (型号KS360KOLINKER牌) |
90308200.00 | 硅片厚度检测仪 | (旧)(NANOSPEC1995年产) |
90308200.00 | 三极管电性能检测仪 | (TST-9600B) |
90308200.00 | 硅片杂质浓度检测仪 | (旧)(SSM490i1994年产) |
90308200.00 | 半导体检测仪,品牌ASM. | (用于检测贴片机贴装晶体元器件的安装效果,型号2030) |
90308200.00 | 无独立使用功能的半导体测试机 | (半导体测试机备件DS-610T) |
90308200.00 | 测试仪用于检测半导体晶片的信 | (号功能STM牌ST7FLIT2-IND/USB) |
90308200.00 | 半导体测试治具/NVIDIA牌 | (600-50358-0500-100) |
90308200.00 | 内存条测试机 | (品牌:M&T)(PVL-D/P5B测试内存条通路,判断) |
90308200.00 | 全自动模块检测机 | (SINOCARD牌MTM-100型) |
90308200.00 | 测试机 | (测试LED半导体,电气性能)(TH-8000) |
90308200.00 | 硅片微粒子检测仪 | (旧)(SFS62001995年产) |
90308200.00 | 硅片工艺特征检测仪 | (旧)(HP4145B1993年产) |
上一条申报实例:90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一条申报实例:90308410.00-电感及电容测试仪