9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
| 商品编码 | 90308200.00 | ||||
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices | ||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90308200.00 | 少子寿命测试仪 | WT-1000 |
| 90308200.00 | 工位测试夹具/测试手机主板用,用于采集数据并进行比对 | FU |
| 90308200.00 | 激光干涉仪 | 型号:EPMB00600-A02/1-18 |
| 90308200.00 | 自动DLD检查装置 | SDL-100 |
| 90308200.00 | 晶片缺点检测机 | NSX105D/ |
| 90308200.00 | 少子寿命仪 | WT-1000 |
| 90308200.00 | 电气检查机/定制/无品牌/测试发光二极管状态 | 技术参数:AC25-264V/检测对象:发光二极管/031 |
| 90308200.00 | 测量仪 | 用于测量硅片的厚度/SMZ-166 |
| 90308200.00 | ACS-11测试台 | CLV-20 |
| 90308200.00 | 半导体分立器件测试仪,品牌:QTEC | 型:QTEC-4100A |
| 90308200.00 | 用于半导体器件老化测试的老化台 | Newport 8016 |
| 90308200.00 | 矢量网络分析仪 | 检测半导体器件微波信号用 |
| 90308200.00 | 器件抗静电/闩锁能力测试仪ORYX | 质量评价.测试.集成电路EX-11000 |
| 90308200.00 | 调试器/调试IC元器件用 | 型DV164015 |
| 90308200.00 | 后半一贯生产机 | 9420-HT (旧) |
| 90308200.00 | 自动检测设备3号机 | 2800 |
| 90308200.00 | BELVAL太阳能测试仪 | PASAN S/SC 704 |
| 90308200.00 | 逻辑分析仪,ANGILEN,通过电缆连接通讯设备的输出 | 输入设备,通过波段强弱来检测无线通讯设备信号,型号5B |
| 90308200.00 | 半导体晶片测试仪/用途:测试液晶驱动IC的各项技术参数 | 检测对象:半导体器件/型号:MFBU/无技术参数/109 |
| 90308200.00 | 晶元针测机/UF200A | 检测晶元片内的程序是否正常 |
上一条申报实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一条申报实例：90308410.00-电感及电容测试仪