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9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品编码 90308200.00 
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
申报实例汇总
HS编码 商品名称 商品规格
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90308200.00 台阶测试仪 XP-1
90308200.00 太阳电池板测试仪 DLSK-S0L3 用于测试电池板电能参数
90308200.00 半导体型号测试仪 HS-1
90308200.00 闪光器测试台 TL111,制造商:政木设计事务所
90308200.00 编带检测机/TTVISION T-112
90308200.00 全自动测试机 长裕/EPT-620/测试发光二极管分
90308200.00 EG硅片自动探针台(旧) 2001X
90308200.00 半导体老化板测试机 WJB-1700N
90308200.00 SEMILAB单点少子寿命测试仪 WT-1000B
90308200.00 测试台/测试集成电路用 横河,AL9740
90308200.00 晶片测试仪,品牌:VERIGY,用于测量高精密器 型号:VRY-V5000-SPA-SANTA
90308200.00 全自动探针仪 LEDA-8F EVA-3G 测试LED晶粒特性
90308200.00 Micropross SIM卡模拟器 STAR3150
90308200.00 ALS线型混合信号测试机 A30989/A30956
90308200.00 测试夹具 测试电路板性能用,型NTRZ818AE5
90308200.00 芯片手动测试平台 无牌 PE-4
90308200.00 测试及终检系统,品牌:ASM 功能:测试和检测晶体零件,无测试结果显示
90308200.00 晶片检测机 OMM-384
90308200.00 TESEC全自动测试系统 971-TT/A
下一条申报实例:90308410.00-电感及电容测试仪
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