9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
| 商品编码 | 90308200.00 | ||||
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices | ||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90308200.00 | 自动DLD检查装置 | SDL-100 |
| 90308200.00 | 晶片缺点检测机 | NSX105D/ |
| 90308200.00 | 少子寿命仪 | WT-1000 |
| 90308200.00 | 电气检查机/定制/无品牌/测试发光二极管状态 | 技术参数:AC25-264V/检测对象:发光二极管/031 |
| 90308200.00 | 测量仪 | 用于测量硅片的厚度/SMZ-166 |
| 90308200.00 | ACS-11测试台 | CLV-20 |
| 90308200.00 | 半导体分立器件测试仪,品牌:QTEC | 型:QTEC-4100A |
| 90308200.00 | 用于半导体器件老化测试的老化台 | Newport 8016 |
| 90308200.00 | 矢量网络分析仪 | 检测半导体器件微波信号用 |
| 90308200.00 | 器件抗静电/闩锁能力测试仪ORYX | 质量评价.测试.集成电路EX-11000 |
| 90308200.00 | 调试器/调试IC元器件用 | 型DV164015 |
| 90308200.00 | 测试板,品牌:STM | 型号:ST7MDT20-DVP3 |
| 90308200.00 | 功能测试机/测试数字机顶盒 | THOMSON |
| 90308200.00 | CREDENCE线性模拟器件测试系统 | ASL 1000 SYSTEM |
| 90308200.00 | 高低温测试系统 | W-2800B |
| 90308200.00 | 频率分选机 | A-QB-210B |
| 90308200.00 | 集成电路测试、编带一体机ISMECA | NX216D-HS |
| 90308200.00 | 记忆卡测试平台/测试记忆卡数字传递数据/数字式检测/ | 型号:PC-FH1280等/对象:半导体记忆卡/额定电压110V/最 |
| 90308200.00 | 硅片裂纹检测仪 | MCI-100 |
| 90308200.00 | 测试机（测试各种IC的各种参数） | TR-6800/德律牌 |
上一条申报实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一条申报实例：90308410.00-电感及电容测试仪