9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
| 商品编码 | 90308200.00 | ||||
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices | ||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90308200.00 | ESD电测系统 | 透过利用微电流通过LED，筛选LED组件是否有被静电损 |
| 90308200.00 | 晶体管测试仪 | 用于示波管显示半导体器件的各种特性曲线|测试测量设备| |
| 90308200.00 | 失效检测机 | 用于测试芯片|通过测试,判断芯片的合格与否|带记录装置 |
| 90308200.00 | CF卡测试仪(旧) | 测试CF卡|导通测试、漏电测试|无记录装置|TEST |
| 90308200.00 | LED量测仪(旧)修理费 | 可量测封装于LED支架上的LED芯片光电特性。包括亮度 |
| 90308200.00 | 测试机台 | 测试用|通过分析，实现检测电路板，元器件和线路通短的机 |
| 90308200.00 | 真空测试机 | |
| 90308200.00 | 晶圆测试台 | 用于晶圆级的芯片测试|芯片测试|不带记录装置|Accr |
| 90308200.00 | 93K 集成电路测试系统 | 用来测试集成电路芯片的功能,确保芯片按照设计指标正常工 |
| 90308200.00 | 量测单元 | 半导体硅片化学机械研磨及其他制程控制，提供线上整合式厚 |
| 90308200.00 | 测试板卡 | 测试样品圆片|测试机台用的PCB|不带记录装置|COR |
| 90308200.00 | 半导体测量设备 | 测量晶圆工艺及物质含量 |
| 90308200.00 | 集成块测试机(旧) | 检查集成电路产品的电压,电流,是否漏电|检查集成电路产 |
| 90308200.00 | 晶圆点测机 | 用于半导体封装测试厂前段测试针测中所用|用于晶圆测试| |
| 90308200.00 | 半导体自动化测试分选机 | 用于分检IC在常温及高温环境温度下的电性能合格品|通过 |
| 90308200.00 | 芯片检测机(旧) | 对加工的半导体晶片进行检测|对半导体晶片进行检测|不带记录装 |
| 90308200.00 | 芯片模块测试机 | 可作为磁带生产输出质量的测量系统|为IC模块和RFID |
| 90308200.00 | 缺陷测试设备 | 用于芯片外观缺陷扫描|通过光学扫描与标准图片进行对比来 |
| 90308200.00 | 测试仪（旧） | 测试电压|用于测试TVS在10X1000US浪涌下的嵌 |
| 90308200.00 | P-8探针台 | 用于测试芯片的自动设备,具有自动打点,视觉识别芯片对位 |
上一条申报实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一条申报实例：90308410.00-电感及电容测试仪