9030820000 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
| 商品编码 | 90308200.00 | ||||
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices | ||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90308200.00 | CASCADE牌探针台 | 用于检测半导体晶片及微波芯片的电信号参数 |
| 90308200.00 | 晶体中间测试仪 | KH8210 |
| 90308200.00 | IC测试仪用治具 | 型号:S2695/3017 |
| 90308200.00 | 网络晶体中间测试仪 | KH8210 |
| 90308200.00 | 晶片测试仪 | 品牌:VERIGY,型号:BASE SYSTEM 93K |
| 90308200.00 | 半导体晶片测试器/牌:XCT/晶片运行时热电能的检测 | 型号:MCM1H/0382/参数:25-200℃ |
| 90308200.00 | 集成电路测试、编带一体机TRIPOD | SOT223 |
| 90308200.00 | 半导体晶片检测仪/工业用/牌NADA/检测对象:半导体晶片 | 型号TEST01/001/有测试结果显示/显示频度线图 |
| 90308200.00 | 晶体管测试仪 | 8610CU |
| 90308200.00 | 四探针测试仪 | FPP5000 |
| 90308200.00 | 测试编带机 | NCT-3700(0603单晶) |
| 90308200.00 | 老化测试仪 | 5030 BI STATION |
| 90308200.00 | 无接触硅片测试仪/ADE/硅片 | 厚度/8100/自动测试厚度/0.01μm |
| 90308200.00 | 半导体综合特性测试机 | ASL3000RF |
| 90308200.00 | 硅片缺陷分析仪 | YIS-150 |
| 90308200.00 | 半导体参数测试系统 | B1500A AGILENT牌 |
| 90308200.00 | 氧碳含量测试仪 | QS300 |
| 90308200.00 | 测试机 | SD-600 |
| 90308200.00 | 测试仪 | 用于测试集成电路原片的各项电性参数 |
| 90308200.00 | 快速半导体参数测试机 | PuPARSET |
上一条申报实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一条申报实例：90308410.00-电感及电容测试仪