9031410000 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
| 商品编码 | 90314100.00 | ||||
| 商品名称 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 | ||||
| 商品描述 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的 | ||||
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices | ||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90314100.00 | 硅锭载流子寿命测试系统 | ;品牌:SEMILAB;;;检测对象:半导体硅锭;型号：WT-2000D |
| 90314100.00 | 太阳光模拟器 | 用光学装置模拟太阳光，测试太阳能光伏组件的电性能参数，得到转换效率功率等信息，备|检测太阳能组件的iv曲线。通过模拟太阳能的照射，使太阳能电池板产生电流，并由设备自带的电脑记录以及安装的软件进行分析得出数据|Endeas|QS540LA|显示何种指标：测试组件的光电转换效率 |
| 90314100.00 | 表面缺陷检测设备 | 用于检查分析蓝宝石衬底行业的表面缺陷;品牌Candela |
| 90314100.00 | 制造半导体器件的检测仪和器具 | 第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的 |
| 90314100.00 | 半导体硅片检查仪(旧) | 用于观察,测量晶圆上,芯片加工过程中芯片表面缺陷,划痕 |
| 90314100.00 | 降尘试验箱 | 用于模拟环境的专用设备|被测产品性能的可靠性|HAST |
| 90314100.00 | 3D光学轮廓仪 | 测试物体表面的轮廓|利用光的干涉原理和共聚焦原理来测试 |
| 90314100.00 | 微颗粒光学检测仪 | 检查晶圆或MAST（光罩板）等表面|通过使用强光照射到 |
| 90314100.00 | LED全自动高速测试机 | 测电子元件归类;测相关参数;无牌;NCS-3102型 |
| 90314100.00 | PCB测试设备 | 用于半导体检测|检测半导体性能|无锡君浩科技有限公司| |
| 90314100.00 | 检测器框架 | 检测设备外壳|起保护支撑作用|无品牌|850G ULT |
| 90314100.00 | 全自动检测机 | 检测贴片精度较低的电路板|对器件的缺漏、错位、破损、错 |
| 90314100.00 | 半导体硅片检查仪 | 用于观察、测量晶圆上，芯片加工过程中芯片表面缺陷，划痕 |
上一条申报实例：90312000.90-其他试验台
下一条申报实例：90314910.00-轮廓投影仪