9031410000 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
| 商品编码 | 90314100.00 | ||||
| 商品名称 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 | ||||
| 商品描述 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的 | ||||
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices | ||||
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
| 90314100.00 | 探针台/无品牌 | LEDA-8F-POWA |
| 90314100.00 | 光栅尺 | 0.000.71.098.16 |
| 90314100.00 | 打孔检查机/用于检查线路板打孔 | HA-1AME |
| 90314100.00 | DVD光学头参数测量调整仪 | O-PAS700S |
| 90314100.00 | 晶圆缺陷检测机 | AXi935d RUDOLPH牌 |
| 90314100.00 | 晶体测试机 | 9414KT |
| 90314100.00 | 半导体用微波检测仪 | 型号:MC6 |
| 90314100.00 | 检测芯片光功率用检测仪 | ILX/FPM-8210 FO |
| 90314100.00 | 电路板半导体器件光学检测仪 | YTV-B3 YESTECH牌,光学对比原理,检测位置焊点等 |
| 90314100.00 | 集成电路测试器,可测得集成电路是否短路或断路,NIDEC-READ | STAR REC V5 |
| 90314100.00 | 光学厚度量测仪 | OP-2600I |
| 90314100.00 | 在线光学检查仪 | 型号SPI HS-60L |
| 90314100.00 | 光电开关用检测器具 | PSR11TD5-C无测试结果显示 范围5-15MM |
| 90314100.00 | SRM集成电路检测分类机 | XD244 |
| 90314100.00 | 测评仪 | 品牌:CORNING TROPEL/型号:FM200 |
| 90314100.00 | 颜色分选检测仪 | GP CELL-Q FS.cam,用于检测电池片 |
| 90314100.00 | EL测试机 | ;;;;;VX-106 |
| 90314100.00 | 试验机 | 无品牌 型号：NWI-420C等 用于半导体加工 |
| 90314100.00 | 半导体检测仪 | 无品牌 型号：AU-10 用脉冲法测试半导体的功率参数 |
| 90314100.00 | 硅锭载流子寿命测试系统 | ;品牌:SEMILAB;;;检测对象:半导体硅锭;型号：WT-2000D |
上一条申报实例：90312000.90-其他试验台
下一条申报实例：90314910.00-轮廓投影仪